CSET评估AI芯片位置验证方法以加强出口管制

美国智库CSET发布报告，评估了通过位置验证方法来加强AI芯片出口管制的可行性，认为目前仅有物理检查和基于Ping的位置验证（PLV）符合可验证、准确、安全和可重复四项标准。 报告指出，AI芯片走私规模难以准确估计，但已有超过十起案件被曝光，且全球化的供应链和多环节交易增加了走私与追踪的难度。美国政府正在考虑采用此类方法以应对芯片走私问题。

AI 根据报道生成 · 4 小时前更新

还没有足够的连续观测数据，暂不绘制趋势。