Show HN：首次硅芯片测试，AI 模型遗漏真实硬件缺陷

一项研究测试了 Opus 5.5、Fable 5.1、Sonnet 5.5 和 Haiku 5.5 等 AI 模型在检测真实芯片缺陷时的表现，结果显示 Opus 5.5 在最大努力模式下能准确识别 16 个缺陷，但其中两个警报为误报。